Tablettenblister -Querschnitte #6 Rasterelektronenmikroskopie
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Tablettenblister -Querschnitte #6 Rasterelektronenmikroskopie

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Dienstleister strucTEM
Artikel Nr. 2018022202

Tablettenblister -Querschnitte #6 Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen Tablettenblister-Querschnitten
Zur Beurteilung & Kontrolle von

  • Schichtdicken
  • Homogenität
  • zusammensetzung
     

Unsere REM Analyse:

  • Eine Blister-Probe
  • 6 Aufnahmen inklusive Abbildungsmaßstab
  • Vergrößerungen: ca. 200fach bis ca. 10.0000fach, je nach Dimensionen der Strukturen
  • Angabe der Dimensionen der aufgenommenen Strukturen
  • Auflösung Bilder: > 4 MP
  • Ein PDF-Analysebericht inkl. der Aufnahmen wird per Email zugesandt.
  • Die Original Aufnahmen werden auf dem strucTEM-Server zum Download bereitgestellt

Bildbeispiele: Elektronenmikroskopische Aufnahmen eines Blisterquerschnitts in unterschiedlichen Vergrößerungen

(Einfärbung ist nicht im Preis inbegriffen)


Gerne senden wir Ihnen ein individuelles Angebot für Staffelpreise zu.

Anmerkungen zu Probenversand, Probenaufbewahrung und unseren AGB für Analysen

  • ​Die Kosten für den Probenversand an strucTEM übernimmt der Kunde.
  • Informationen zum Probenversand erhalten Sie separat per Email.
  • Gesundheitsgefährdende Stoffe/Proben dürfen nur nach vorheriger Rücksprache an strucTEM geschickt werden (s. AGB).
  • Die Proben werden mindestens 2 Wochen nach Probenanalyse von strucTEM aufbewahrt.
  • Ein Rückversand der Proben ist nicht vorgesehen. Auf Wunsch kann dieser erfolgen. Die Kosten für den Rückversand übernimmt  dann der Kunde.
  • Weitere Einzelheiten zu unseren AGB für Probenanalysen finden Sie in unseren AGB.

 

Rasterelektronenmikroskopie

- Die Abbildung entsteht im Elektronenmikroskop (EM) durch die Wechselwirkung von Elektronen mit dem Objekt.
- Beim Rasterelektronenmikroskop (REM) wird der Elektronenstrahl dabei über das abzubildende Objekt gerastert.
- Charakteristisch sind Abbildungen von Oberflächen mit hoher Schärfentiefe.
- Übliche Auflösungen: 1-30nm (je nach Instrument). Das Limit liegt derzeit bei ca. 0.4 nm.
- Übliche Vergrößerungen: 10 - 300.000x
 

 

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