REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie
REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie

REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie

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Artikel Nr. 2018012304

REM-Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen & Bruchflächen #6 Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen von Tabletten-Oberflächen und Bruchstellen

Ideal zur individuellen

  • Beurteilung & Dokumentation von Partikelverteilungen, Korngrößen, Inhaltsstoffen, Fremdkörpern, Gleichförmigkeit 
  • zur Qualitätsprüfung neuer Chargen
  • Begleitung von Produkt-Neuentwicklungen 

 

Unsere REM Analyse:

  • Eine Tabletten-Probe
  • 6 Aufnahmen inklusive Abbildungsmaßstab
  • Vergrößerungen: ca. 200fach bis ca. 10.0000fach, je nach Dimensionen der Strukturen
  • Angabe der Dimensionen der aufgenommenen Strukturen
  • Auflösung Bilder: > 4 MP
  • Ein PDF-Analysebericht inkl. der Aufnahmen wird per Email zugesandt.
  • Die Original Aufnahmen werden auf dem strucTEM-Server zum Download bereitgestellt

Bildbeispiele: Elektronenmikroskopische Aufnahmen von unterschiedlichen Tabletten


Gerne senden wir Ihnen ein individuelles Angebot für Staffelpreise zu.

Anmerkungen zu Probenversand, Probenaufbewahrung und unseren AGB für Analysen

  • ​Die Kosten für den Probenversand an strucTEM übernimmt der Kunde.
  • Informationen zum Probenversand erhalten Sie separat per Email.
  • Gesundheitsgefährdende Stoffe/Proben dürfen nur nach vorheriger Rücksprache an strucTEM geschickt werden (s. AGB).
  • Die Proben werden mindestens 2 Wochen nach Probenanalyse von strucTEM aufbewahrt.
  • Ein Rückversand der Proben ist nicht vorgesehen. Auf Wunsch kann dieser erfolgen. Die Kosten für den Rückversand übernimmt  dann der Kunde.
  • Weitere Einzelheiten zu unseren AGB für Probenanalysen finden Sie in unseren AGB.

 

Rasterelektronenmikroskopie

- Die Abbildung entsteht im Elektronenmikroskop (EM) durch die Wechselwirkung von Elektronen mit dem Objekt.
- Beim Rasterelektronenmikroskop (REM) wird der Elektronenstrahl dabei über das abzubildende Objekt gerastert.
- Charakteristisch sind Abbildungen von Oberflächen mit hoher Schärfentiefe.
- Übliche Auflösungen: 1-30nm (je nach Instrument). Das Limit liegt derzeit bei ca. 0.4 nm.
- Übliche Vergrößerungen: 10 - 300.000x
 

 

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